Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Mykhaylovskyy V$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
|
1. |
Goliney I. Yu. The effect of thermal vibrations on the acceleration of neutral atoms during a surface phase transition [Електронний ресурс] / I. Yu. Goliney, V. V. Mykhaylovskyy, V. I. Sugakov // Журнал фізичних досліджень. - 2009. - Т. 13, Число 4. - С. 4602-1-4602-6. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jphd_2009_13_4_14
| 2. |
Dzyublik A. Ya. Symmetric laue diffraction of spherical neutron waves in absorbing crystals [Електронний ресурс] / A. Ya. Dzyublik, V. I. Slisenko, V. V. Mykhaylovskyy // Ukrainian journal of physics. - 2018. - Vol. 63, № 2. - С. 174-181. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2018_63_2_14 Відому теорію Като дифракції Лауе сферичних рентгенівських хвиль узагальнено на випадок дифракції нейтронів у сильно поглинаючих кристалах, беручи до уваги як потенціальне, так і резонансне розсіяння нейтронів ядрами. Для оцінки кутових інтегралів застосовується метод перевалу, який є більш адекватний у випадку сильно поглинаючих кристалів, ніж наближення стаціонарної фази, що використовувалося Като. Встановлено, що розподіл інтенсивності дифрагованих і заломлених пучків вздовж основи трикутника Бормана сильно залежить від відхилення енергії нейтронів від ядерного резонансного рівня.
| 3. |
Dzyublik A. Ya. Symmetric laue diffraction of spherical neutron waves in absorbing crystals [Електронний ресурс] / A. Ya. Dzyublik, V. I. Slisenko, V. V. Mykhaylovskyy // Український фізичний журнал. - 2018. - Т. 63, № 2. - С. 174-181. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2018_63_2_14 Відому теорію Като дифракції Лауе сферичних рентгенівських хвиль узагальнено на випадок дифракції нейтронів у сильно поглинаючих кристалах, беручи до уваги як потенціальне, так і резонансне розсіяння нейтронів ядрами. Для оцінки кутових інтегралів застосовується метод перевалу, який є більш адекватний у випадку сильно поглинаючих кристалів, ніж наближення стаціонарної фази, що використовувалося Като. Встановлено, що розподіл інтенсивності дифрагованих і заломлених пучків вздовж основи трикутника Бормана сильно залежить від відхилення енергії нейтронів від ядерного резонансного рівня.
| 4. |
Mykhaylovskyy V. V. Pulses of the excitonic condensed phase in semiconductors with double quantum well at steady pumping: Size effects [Електронний ресурс] / V. V. Mykhaylovskyy, V. I. Sugakov // Ukrainian journal of physics. - 2018. - Vol. 63, № 5. - С. 396-401. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2018_63_5_5 Проаналізовано умови, за яких виникає генерація і рух солітонів (областей екситонних конденсованих фаз) в подвійних квантових ямах напівпровідників при стаціонарній накачці і наявності зовнішньої тянучої сили. Показано, що існує мінімальний розмір системи, при якому стан з рухомими солітонами може бути створений. Знайдена залежність мінімального значення тянучої сили, необхідної для генерації рухомих солітонів, від розмірів системи.
| 5. |
Mykhaylovskyy V. V. Pulses of the excitonic condensed phase in semiconductors with double quantum well at steady pumping: Size effects [Електронний ресурс] / V. V. Mykhaylovskyy, V. I. Sugakov // Український фізичний журнал. - 2018. - Т. 63, № 5. - С. 396-401. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/UPhJ_2018_63_5_5 Проаналізовано умови, за яких виникає генерація і рух солітонів (областей екситонних конденсованих фаз) в подвійних квантових ямах напівпровідників при стаціонарній накачці і наявності зовнішньої тянучої сили. Показано, що існує мінімальний розмір системи, при якому стан з рухомими солітонами може бути створений. Знайдена залежність мінімального значення тянучої сили, необхідної для генерації рухомих солітонів, від розмірів системи.
|
|
|